Научный журнал Microelectronics Reliability включен в БД Скопус.
По данным на 2020 год, показатель SJR равен 0.497.
Журнал издается Elsevier BV.
Страной издательства журнала является Нидерланды.
Основными предметными областями публикуемых статей являются Электротехническая и электронная промышленность, Безопасность, риски, надежность и качество, Поверхности, покрытия и пленки, Электронные оптические и магнитные материалы, Атомная, молекулярная физика и оптика, Физика конденсированных сред.
Перед отправкой научной статьи мы рекомендуем выполнить проверку статьи на соответствие базовым требованиям к научным работам с помощью сервиса "Экспресс-аудит".
Услуга «Экспресс-аудит» позволит автору лучше понять, насколько статья готова к публикации, произвести её доработку до подачи в журнал. Эксперты ORES с большим опытом публикации в рецензируемых журналах производят комплексную проверку по десяткам параметров, и могут дать предложения по улучшению структуры и логики содержания, правописанию и т.д.
Percentile | Scopus ASJC Code | Scopus Sub-Subject Area | Quartile |
|
62 | 2208 | Электротехническая и электронная промышленность | 2 |
57 | 3104 | Физика конденсированных сред | 2 |
65 | 2213 | Безопасность, риски, надежность и качество | 2 |
58 | 2504 | Электронные оптические и магнитные материалы | 2 |
58 | 3107 | Атомная, молекулярная физика и оптика | 2 |
63 | 2508 | Поверхности, покрытия и пленки | 2 |
Web Site | Articles in 2018 | Articles in 2019 | Articles in 2020 |
|
Link | 534 | 319 | 191 |