Научный журнал Journal of X-Ray Science and Technology включен в БД Скопус.
По данным на 2020 год, показатель SJR равен 0.351.
Журнал издается IOS Press.
Страной издательства журнала является Нидерланды.
Основными предметными областями публикуемых статей являются Электротехническая и электронная промышленность, Радиология и радиационная медицина, Радиация, Контрольно-измерительные приборы, Физика конденсированных сред.
Перед отправкой научной статьи мы рекомендуем выполнить проверку статьи на соответствие базовым требованиям к научным работам с помощью сервиса "Экспресс-аудит".
Услуга «Экспресс-аудит» позволит автору лучше понять, насколько статья готова к публикации, произвести её доработку до подачи в журнал. Эксперты ORES с большим опытом публикации в рецензируемых журналах производят комплексную проверку по десяткам параметров, и могут дать предложения по улучшению структуры и логики содержания, правописанию и т.д.
Percentile |
Scopus ASJC Code |
Scopus Sub-Subject Area |
Quartile |
|
47 |
3108 |
Радиация |
3 |
52 |
2208 |
Электротехническая и электронная промышленность |
2 |
45 |
3104 |
Физика конденсированных сред |
3 |
47 |
2741 |
Радиология и радиационная медицина |
3 |
48 |
3105 |
Контрольно-измерительные приборы |
3 |
Web Site |
Articles in 2018 |
Articles in 2019 |
Articles in 2020 |
|
Link |
75 |
69 |
84 |