Микросхемы, входящие в состав пультов управления космонавтов, функционируют в условиях открытого космоса, где на них одновременно действуют ионизирующее излучение, глубокий вакуум, экстремальные температуры и многократные термоциклы. Данные факторы инициируют физические процессы на уровне кристалла и корпуса, приводящие к обратимым сбоям, необратимым отказам и деградации параметров. В статье проанализированы механизмы воздействия космических факторов на полупроводниковые приборы, количественные пороги стойкости, а также системные методы защиты: выбор компонентов space grade, экранирование, резервирование и терморегулирование.
